新品發(fā)布！！壺坂電機TSUBOSAKA 超薄大尺寸LED光源 VLB-3636LGP-CRI 

新品發(fā)布??！壺坂電機TSUBOSAKA 超薄大尺寸LED光源 VLB-3636LGP-CRI 

近期我司新推出壺坂電機TSUBOSAKA 超薄大尺寸LED光源 VLB-3636LGP-CRI 

壺坂電機TSUBOSAKA VLB-3636LGP-CRI 超薄大尺寸LED光源是一款采用x進導光板（LGP，Light Guide Plate）技術的面光源產品。它以360mm × 360mm的大面積均勻發(fā)光配合j致纖薄的機身，為液晶面板檢測、半導體外觀檢查、醫(yī)療影像觀察等高精度光學檢測場景，提供了兼具輕薄形態(tài)與光學性能的理想照明解決方案。

該產品的核心在于其LGP導光板光學設計。不同于傳統(tǒng)的直下式LED陣列，VLB-3636LGP-CRI采用側邊入光配合精密導光網點結構，使光線在導光板內部充分混合后均勻射出。這一設計不僅實現了機身厚度的j致壓縮，更確保了整個發(fā)光面亮度的高度一致，消除了LED點陣帶來的亮度不均或暗區(qū)現象，特別適合對背景均勻性要求極為嚴苛的視覺檢測應用。

在光學性能方面，VLB-3636LGP-CRI延續(xù)了壺坂電機對高品質色彩還原的堅持。其平均顯色指數高達Ra 95以上，能夠精準呈現被測物體的真實色彩，滿足液晶面板Mura檢測、彩色濾光片外觀檢查等高精度色彩評價需求。光源采用DC直流點燈方式，消除了頻閃干擾，確保與高速線陣相機或高分辨率面陣相機配合時，圖像采集的穩(wěn)定與清晰。

該光源的亮度均勻性表現尤為突出。得益于導光板的精密光學設計，其整個360mm×360mm發(fā)光面的亮度不均勻性可控制在±5%以內。這意味著無論是中心區(qū)域還是邊緣角落，被測物體都能接收到高度一致的照明條件，為大尺寸樣品的全面檢測提供了可靠的均勻背景。亮度調節(jié)范圍寬廣，支持0-100%連續(xù)調光，且采用定電流控制技術，確保調光過程中色溫與光譜特性保持穩(wěn)定。

在結構與安裝便利性上，VLB-3636LGP-CRI充分考慮了工業(yè)集成需求。超薄機身配合輕量化設計，使其可輕松嵌入各類自動化檢測設備、觀察暗箱或精密測量系統(tǒng)中。設備支持外部控制接口，便于實現遠程調光與開關控制，適應自動化產線的集中管控需求。其應用領域廣泛：在液晶顯示行業(yè)，用于背光模組檢測、面板Mura評估、偏光片外觀檢查；在半導體領域，適用于晶圓表面缺陷檢測、芯片封裝外觀檢查；在印刷電路板行業(yè)，可用于大面積焊盤與線路的自動光學檢測；在醫(yī)療影像領域，則作為膠片觀察或數字病理掃描的均勻背光源。